具備靈活/彈性擴充優勢 PXI模組儀器成IC測試新利器

作者: 小樵
2016 年 04 月 21 日
隨著半導體元件的設計日益複雜,測試在整體IC成本中所占的比例不斷成長。傳統射頻與混和訊號IC測試有時會在特性測試實驗室中進行,以便透過機架堆疊式箱型儀器取得高品質量測結果,但此方式無法處理大量晶片。PXI模組儀器將是解決這個問題的理想方案。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

符合手持式醫療電子設計需求 PSoC異軍突起

2008 年 12 月 29 日

低功耗/新應用驅動 FPGA邁入28奈米世代

2010 年 05 月 10 日

動作感測面面俱到 慣性感測應用變化萬千

2010 年 05 月 27 日

善用電路設計/驗證工具 系統模塊開發效率倍增

2011 年 08 月 01 日

MEMS供電連接器立功 可攜式醫療設備體積更精巧

2013 年 10 月 24 日

隔離式ADC有效量測 三相感應AC馬達控制有解

2021 年 05 月 30 日
前一篇
Qorvo購併GreenPeak 擴增物聯網RF產品陣容
下一篇
Socionext影像訊號處理器助攻 安全監控再升級